英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進行日常測量。
膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料
可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應用:如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等
多涂鍍層應用:如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等
合金鍍層應用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應用:如NiP/Fe, 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度
全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量配合用戶友好的軟件界面,EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀,可以輕松地進行日常測量。材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學由蘇州英飛思科學儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學儀器有限公司位于蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室。在市場經(jīng)濟的浪潮中拼博和發(fā)展,目前英飛思科學在分析儀器中享有良好的聲譽。英飛思科學取得全網(wǎng)商盟認證,標志著我們的服務和管理水平達到了一個新的高度。英飛思科學全體員工愿與各界有識之士共同發(fā)展,共創(chuàng)美好未來。溫馨提示:以上是關于EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學的詳細介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關的產(chǎn)品!
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