XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質(zhì)。 四川微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學(圖)由蘇州英飛思科學儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學儀器有限公司擁有很好的服務與產(chǎn)品,不斷地受到新老用戶及業(yè)內(nèi)人士的肯定和信任。我們公司是商盟認證會員,點擊頁面的商盟客服圖標,可以直接與我們客服人員對話,愿我們今后的合作愉快!溫馨提示:以上是關于四川微區(qū)膜厚儀EDX-8000T Plus-英飛思科學(圖)的詳細介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關的產(chǎn)品!
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