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蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
主營：光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
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英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量
配合用戶友好的軟件界面，膜厚儀EDX8000TPlus，可以輕松地進行日常測量。
>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層，如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層
>分析硬質(zhì)材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
溫馨提示：以上是關(guān)于鎮(zhèn)江膜厚儀EDX8000TPlus-英飛思科學(xué)儀器公司的詳細(xì)介紹，產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供，如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ，您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品！
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第4年
