EMMI微光顯微鏡
微光顯微鏡(Emission Microscope,芯片開封機, EMMI)是常用漏電流路徑分析手段。對于故障分析而言,微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中,開封機,EHP(Electron Hole Pairs)Recombination會放出光子(Photon)。如在P-N結(jié)加偏壓,此時N阱的電子很容易擴散到P阱,激光開封機,而P的空穴也容易擴散至N,然后與P端的空穴(或N端的電子)做EHP Recombination。在故障點定位、尋找近紅外波段發(fā)光點等方面,微光顯微鏡可分析P-N接面漏電;P-N接面崩潰;飽和區(qū)晶體管的熱電子;氧化層漏電生的光子激發(fā);Latch up、Gate Oxide Defect、Junction Leakage、Hot Carriers Effect、ESD等問題.
微光顯微鏡偵測得到亮點之情況:會產(chǎn)生亮點的缺陷 - 漏電結(jié)(Junction Leakage); 接觸毛刺(Contact spiking); (熱電子效應)Hot electr;閂鎖效應( Latch-Up);氧化層漏電( Gate oxide defects / Leakage(F-N current));多晶硅晶須(Poly-silicon filaments); 襯底損傷(Substrate damage); (物理損傷)Mechanical damage等。原來就會有的亮點 - Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS; Forward biased diodes/Reverse;biased diodes(break down) 等。 開封機-特斯特-芯片開封機由蘇州特斯特電子科技有限公司提供。蘇州特斯特電子科技有限公司擁有很好的服務與產(chǎn)品,不斷地受到新老用戶及業(yè)內(nèi)人士的肯定和信任。我們公司是商盟認證會員,點擊頁面的商盟客服圖標,可以直接與我們客服人員對話,愿我們今后的合作愉快!溫馨提示:以上是關(guān)于開封機-特斯特-芯片開封機的詳細介紹,產(chǎn)品由蘇州特斯特電子科技有限公司為您提供,如果您對蘇州特斯特電子科技有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應商或者讓供應商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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