材質(zhì)必須均勻。你的待測元素不均勻的話,多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄,直徑1-5微米,也就是說照射到樣品的區(qū)域會很小,所以不均勻樣品檢測會不準(zhǔn)確,當(dāng)然主要也是看不均勻程度。
你的交錯規(guī)律排列指的什么?如果是一層高分子,一層無機(jī)物,在一層高分子一層無機(jī)物,并且每層的厚度一定(比如層高分子都是10微米厚)。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的,但是用X熒光光譜儀測量還是有問題,因為X熒光透過不同物質(zhì)有厚(某元素的X熒光透射不出來的厚度,原因是自吸收)的問題。
射線管發(fā)射具有高能量的粒子束照射樣品, 當(dāng)其能量大于樣品原子中某一軌道電子的結(jié)合能時, 便可將該軌道的電子逐出, 形成空穴, 即時外層電子躍向空穴,CS995型紅外碳硫分析儀, 電子軌道層的能量差將以特征X射線熒光逸出原子, 其能量差與原子序數(shù)相對應(yīng), 以此能譜的峰位和凈強(qiáng)度進(jìn)行定性和定量分析。依據(jù)RoHS檢測中元素的特點以及大量實際檢測經(jīng)驗, 能量色散X射線熒光光譜儀因其激發(fā)源采用較大功率的Rh靶來產(chǎn)生特征X射線激發(fā)樣品原子中K層L層譜線, 可降低背景 CS995型紅外碳硫分析儀-英飛思科學(xué)儀器由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司位于蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室。在市場經(jīng)濟(jì)的浪潮中拼博和發(fā)展,目前英飛思科學(xué)在分析儀器中享有良好的聲譽(yù)。英飛思科學(xué)取得全網(wǎng)商盟認(rèn)證,標(biāo)志著我們的服務(wù)和管理水平達(dá)到了一個新的高度。英飛思科學(xué)全體員工愿與各界有識之士共同發(fā)展,共創(chuàng)美好未來。溫馨提示:以上是關(guān)于CS995型紅外碳硫分析儀-英飛思科學(xué)儀器的詳細(xì)介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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