全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射,測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近,厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材,測定厚度達(dá)2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點(diǎn)是準(zhǔn)確,快速,無損,操作簡單,測量速度快。可同時分析多達(dá)五層材料厚度,EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀,并能對鍍層的材料成分進(jìn)行快速鑒定。XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司位于蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室。在市場經(jīng)濟(jì)的浪潮中拼博和發(fā)展,目前英飛思科學(xué)在分析儀器中享有良好的聲譽(yù)。英飛思科學(xué)取得全網(wǎng)商盟認(rèn)證,標(biāo)志著我們的服務(wù)和管理水平達(dá)到了一個新的高度。英飛思科學(xué)全體員工愿與各界有識之士共同發(fā)展,共創(chuàng)美好未來。溫馨提示:以上是關(guān)于EDX8000TPlusXRF鍍層測厚儀-英飛思科學(xué)的詳細(xì)介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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