膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,衡水測厚儀,實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
使用注意事項編輯 語音測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法,測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。測量注意事項:⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。 測厚儀廠家-英飛思科學(xué)儀器-衡水測厚儀由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司是從事“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”的企業(yè),公司秉承“誠信經(jīng)營,用心服務(wù)”的理念,為您提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)。歡迎來電咨詢!聯(lián)系人:張經(jīng)理。溫馨提示:以上是關(guān)于測厚儀廠家-英飛思科學(xué)儀器-衡水測厚儀的詳細介紹,產(chǎn)品由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司為您提供,如果您對蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司產(chǎn)品信息感興趣可以聯(lián)系供應(yīng)商或者讓供應(yīng)商主動聯(lián)系您 ,您也可以查看更多與分析儀器相關(guān)的產(chǎn)品!
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