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任意方向跌落試驗(yàn)相關(guān)知識(shí)
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  • 任意方向跌落試驗(yàn),又稱跌落測(cè)試(Drop Test),是一種用于評(píng)估產(chǎn)品在搬運(yùn)、運(yùn)輸和存儲(chǔ)過程中抵抗意外沖擊能力的重要測(cè)試。該測(cè)試的主要目的是了解產(chǎn)品在不同高度和不同方向上自由落下時(shí)的受損情況及其包裝組件的耐沖擊強(qiáng)度。在測(cè)試中,通常根據(jù)產(chǎn)品的重量以及可能掉落的機(jī)率來確定合適的跌落高度;同時(shí)會(huì)確保落下的表面為混凝土或鋼制成的平滑且堅(jiān)硬的剛性表面。對(duì)于手持型產(chǎn)品如手機(jī)等電子產(chǎn)品而言,大多數(shù)情況下的掉落高度的范圍通常在100cm到 150cm之間不等 。不過由于不同國(guó)際規(guī)范的要求存在差異 ,即便是在相同重量的前提下也可能會(huì)有不同的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定:比如IEC建議2kg以下的手持設(shè)備應(yīng)滿足從1米的高度掉下而不損壞的條件 ;MIL則規(guī)定其墜落標(biāo)準(zhǔn)為約1.22 米 ; 而Intel對(duì)手機(jī)的推薦下跌 高度則為達(dá)至了高標(biāo)準(zhǔn)的近1 .5 m 的程度 。此外還需要注意的是 :針對(duì)非 包裝狀態(tài)下的產(chǎn)品進(jìn)行 測(cè)試時(shí)也需要 按照規(guī)定的姿態(tài)來進(jìn)行操作以 確保結(jié)果的準(zhǔn)確性 及可比性 。除了常規(guī)的 自由 落體方式外還可以根據(jù)需要采取定向 或微 等不同類型的方式來模擬特定場(chǎng)景下的撞擊情景從而對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行而有效的質(zhì)量把控與優(yōu)化設(shè)計(jì)工作

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