六.自動光學檢測用于檢查微孔質量
孔金屬化前激光鉆孔后,或金屬化孔后微孔是可以檢查的??捉饘倩蠼?jīng)過AOI檢查,所獲取的信息證實孔內(nèi)鍍層覆蓋的完整性,半導體光學檢測,而不是金屬與焊盤的結合狀態(tài)。如果首道工序要求進行蝕刻,激光鉆孔前進行銅導體進行敷形掩膜,于是在鉆孔前需要對敷形掩膜附加檢查步驟。檢查鉆孔后的環(huán)氧鉆污,就是根據(jù)圖形暗(非反射)環(huán)形的工藝特性采用反射的模式進行檢查。反射的中心目標是帶有銅的焊盤,即微孔的底部。而墨暗的凹處是介質材料本身的邊壁而不是金屬化鍍層,俯視到是外層發(fā)光的范圍內(nèi)表面是銅。
AOI自動光學檢測儀調(diào)試方法!AOI自動光學檢測儀調(diào)試,分為生產(chǎn)組裝調(diào)試、出廠前老化調(diào)試和正常作業(yè)調(diào)試,其中組裝調(diào)試和出廠老化調(diào)試都屬于車間技術人員的工作,半導體光學檢測報價,屬于整體調(diào)試,包括軟件和硬件方面,半導體光學檢測廠商,非人士不建議做這些,一來關乎安全問題,二來關乎AOI檢測儀的正常運作。所以,這里所說的調(diào)試僅指作業(yè)調(diào)試。
那什么情況下需要調(diào)試呢?
一、當顯示屏所顯示的元件歪斜時,說明CCD相機傾斜,這種情況一般很少發(fā)生,半導體光學檢測廠家,因為設備工作時,相機固件與CCD相機之間不存在活動部位,所以沒有磨損,除非因拆機箱不小心被金屬工具重力碰撞;
PCB 缺陷可大致分為短路(包括基銅短路、細線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過厚短路、刮擦短路、褶皺短路等),開路(包括重復性開路、刮擦開路、真空開路、缺口開路等)和其他一些可能導致PCB報廢的缺陷(包括蝕刻過度、電鍍燒焦、針1孔),在 PCB生產(chǎn)流程中,基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷,但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生,AOI一般在蝕刻工序之后進行檢測,主要用來發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。
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