WT-2000P電阻率計SEMILAB鋼錠缺陷檢測裝置檢測器

WT-2000P電阻率計SEMILAB鋼錠缺陷檢測裝置

WT-2000P 是一種高通量在線測量儀器，檢測器，通過測量載流子復合壽命和電阻率來監(jiān)控硅塊的質量。在大 210 x 210 x 500 mm 的硅塊上進行快速非接觸式測量（單點、線掃描和/或地圖）。有手動和自動測量方式，上塊功能也有手動和自動（傳送帶）。它還具有自動化功能。

載流子復合壽命是多晶硅塊的關鍵質量控制參數(shù)。測量基于 μ-PCD 方法。電阻率是基于渦流法測量的。

WT-2000PVN 是一款臺式測量裝置，接地故障檢測器GST7P，可以測量各種太陽能電池、晶圓和塊?；鞠到y(tǒng)配備間接功能，您可以根據(jù)實際需要從以下選項中選擇配置測量功能。WT-2000PVN不僅可以測量晶圓和電池，還可以測量塊和錠。測量晶圓或電池時，通常會創(chuàng)建地圖。此外，在測量塊或錠時，通常只創(chuàng)建線掃描以節(jié)省時間，但 WT-2000PVN 可以同時進行。

少數(shù)載流子壽命測量裝置。u-PCD法可對硅塊、硅片進行非接觸、無損的壽命測量，并可進行映射顯示。通過壽命測量，可以評估污染和雜質，例如硅和化合物半導體中的鐵濃度。

WT-1200i 是一種非接觸式手持式儀器，用于基于渦流檢測光電導衰減 (e-PCD) 的單點體積壽命單點測量，適用于單晶錠和小塊金屬污染。專為檢測而開發(fā)。與表面鈍化樣品中的 μ-PCD 高度相關。

檢測器?充填式蒸餾裝置HP-9000-B型柴田科學SIBATA

充填式蒸餾裝置HP-9000-B型柴田科學SIBATA

充填式蒸留裝置HP-9000-B型，簡易蒸留裝置HP-1000-T型，充填式蒸留裝置HP-9100-B型，填料式蒸餾裝置，灌裝式蒸餾裝置，填充式蒸餾裝置

產(chǎn)品介紹

填料式蒸餾裝置HP-9000-B型：由于采用真空封套蒸餾塔，保溫效果好，可在無補償加熱器的情況下進行蒸餾。運算電路與主機一體化。

簡易蒸餾裝置HP-1000-T型：這是簡單形式的填料蒸餾設備，由基本所需的少零件組成，適用于實驗設備。除了使用溫度控制器外，還可以使用內(nèi)置定時器設置回流比。不適用于高沸物和粘稠物質的蒸餾。

灌裝式蒸餾裝置HP-9100-B型：由于采用真空封套蒸餾塔，保溫效果好，接地故障檢測器SRE5F，可在無補償加熱器的情況下進行蒸餾。配有操作面板和溫度記錄儀。

規(guī)格模型HP-9100-B填充Helipack No.2（SUS316）用法一般用途壓力下降 2.128kPa (16mmHg)蒸餾塔充填式 φ22×1200 mm

真空夾套式蒸餾瓶500 mL、1 L、2 L，各 2 個加熱器套式加熱器 AC100V， 250 W， 400 W，接地故障檢測器GST6P， 500 W回流比計時器采樣 0 到 999 秒

回流 0 到 999 秒可用壓力范圍全真空至常壓電源AC100V 2kVA尺寸機身：650（W）x 550（D）x 2440（H）mm

操作面板：600（W）x 450（D）x 1650（H）mm

CV測量SEMILAB全自動CV測量MCV-2200

全自動CV測量裝置MCV-2200， MCV-2500，CV測量裝置MCV系列MCV-530、MCV-530L，彈性金屬探頭CV測量裝置FCV-3000，非接觸式CV測量裝置Cn-CV 300-SL，Cn-CV 310/210 CV/IV，Cn-CV 330/230 CV/IV，Cn-CV 350 CV/IV，CV-1500，自動壽命測量裝置WT系列WT-2200， WT-2500， WT-3000，

產(chǎn)品介紹

CV測量裝置 Mercury probe MCV是一種可以評估半導體硅晶片和化合物半導體SiC的電氣特性以及MOS器件的氧化膜特性的裝置。在一般的CV測量設備中，poly-Si、Al等被氣相沉積在晶圓上作為柵電極，形成MOS和肖特基結構后評估CV/IV特性?？梢院苋菀椎貦z查，而不需要MCV 自動映射系統(tǒng)對用于外延硅制造和半導體前端處理的未圖案化晶圓執(zhí)行 CV 測量。

接地故障檢測器GST7P-檢測器-津澤機電科技(查看)由重慶津澤機電科技有限公司提供。重慶津澤機電科技有限公司在電子、電工產(chǎn)品制造設備這一領域傾注了諸多的熱忱和熱情，津澤機電科技一直以客戶為中心、為客戶創(chuàng)造價值的理念、以品質、服務來贏得市場，衷心希望能與社會各界合作，共創(chuàng)成功，共創(chuàng)輝煌。相關業(yè)務歡迎垂詢，聯(lián)系人：王慧。